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　　項目簡介

　　利用輝光放電源作為離子源與質譜儀器聯接進行質譜測定的一種分析 方法。 在材料科學領域，GDMS成為反應性和非反應性等離子體沉積過程的控制和表征的工具。由于其可以直接固體進樣，GDMS已成為無機固體材料，尤其是高純材料雜質成分分析的強有力方法，可得到元素半定量數據。

　　1. 測量時顯示時間-強度曲線，是客觀的，客觀體現隨濺射時間的增加元素強度的變化;

　　2. 測量后根據校準曲線擬合轉換成深度-百分含量曲線;

　　3. 本數據用ORIGIN直接導入即可，出現很多縱坐標，Y軸即為對應元素，選擇需要的元素作圖即可(數據中可能出現“Fi”的數據列為儀器參數請忽略)

　　結果展示

　　常見問題

　　1. 測試需要樣品導電嗎?適合測什么物質呢?

　　要求樣品必須導電，一般適用于純物質中雜質的測試。

　　2. GDMS可以測的全部元素包含哪些呢?